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【聚焦未来】IPC总裁谈IPC APEX展会
在此次内容精彩丰富的采访中,John Mitchell博士和Barry Matties探讨了即将到来的IPC APEX EXPO展会、IPC项目以及电子制造行业面临的挑战与机遇。如果你认为 ...查看更多
【聚焦未来】IPC总裁谈IPC APEX展会
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Microtek:市场变化要求重新评估PCB测试程序
Nolan Johnson 和麦可罗泰克(中国)实验室的Bob Neves一起探讨了检验和测试的话题。Bob Neves从运营检测实验室的角度,就目前合约制造商在检验和测试上遇到的问题,分享了他的看法 ...查看更多
Microtek:市场变化要求重新评估PCB测试程序
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Rogers:材料Dk及Df测试方法综述
确定电路材料的Dk(介电常数,εr)和Df(损耗因数,Tanδ)的测试方法多种多样,比如IPC有12种确定材料Dk的测试方法,行业组织、大学或企业也有各自的测试方法。我撰写 ...查看更多